LSI/VLSI testability design : OPAC USU Library

LSI/VLSI testability design

621.395 028 7 Tsu l

Tsui, Frank F.

Judul :	LSI/VLSI testability design
No. Panggil :	621.395 028 7 Tsu l
Penerbit :	McGraw Hill
Edisi :
Tahun :	1987
ISBN :	0-07-065341-0
Deskripsi :	xv, 702 p. : ilus. ; tab. ; 24 cm.
No. Klasifikasi :	621.395 028 7
Golongan :	Ilmu Terapan dan Teknologi
Subyek :	INTEGRATED CIRCUITS-LARGE SCALE INTEGRATION TESTING;INTEGRATED CIRCUITS-VERY LARGE SCALE INTEGRATION-TESTING
Bahasa :	ENG
Jenis :	Buku
Catatan Umum :	Bib. : p. 591 - 684 ; Ind. : p. 685 - 702
Jumlah Eksemplar :	3
Terpinjam :	0
Tersedia :	3

Barcode	Lokasi	Status	Tipe*	Tanggal Pinjam	Tanggal Harus Kembali
9039356	Perpustakaan Universitas	Ada	STD
9039355	Perpustakaan Universitas	Ada	STD
9039354	Perpustakaan Universitas	Ada	STD

Tipe* :
STD = Koleksi standar berada di Lt. 2, Lt. 3 atau Lt. 4 Perpustakaan USU atau di Perpustakaan Cabang.
KPS = Koleksi pinjam singkat berada di bagian KPS (Koleksi Pinjam Singkat) Lt. 1 Perpustakaan USU.